產(chǎn)品推薦
飛納掃描電鏡
ChemiPhase飛納電鏡物相分析軟件
N90 納米CTNeoscan N90 高分辨納米CT
SEMPREP SMART離子研磨儀 SEM樣品制備
GIBTEM樣品制備 精修離子束系統(tǒng)
真空轉(zhuǎn)移多功能樣品杯
掃描電鏡溫控樣品杯
Pharos-STEM樣品杯
掃描電鏡原位拉伸臺(tái)
VSP-P1VSParticle 納米印刷沉積系統(tǒng)
VSP-G1VSParticle 納米粒子發(fā)生器
N80NEOSCAN 高分辨臺(tái)式顯微CT
N70NEOSCAN 臺(tái)式通用型顯微CT
N60NEOSCAN 臺(tái)式顯微CT
Gentle Mill離子精修儀- TEM 樣品精修
Unimill離子減薄儀- TEM 樣品制備
傳真：
郵箱：info@phenom-china.com
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號(hào)：滬ICP備12015467號(hào)-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
400 857 8882
18516656178
